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TDLTE芯片的射频性能测试完成

发布时间:2020-06-30 19:53:58 阅读: 来源:复合肥厂家

全球领先的测试设备制造商—安捷伦科技有限公司(NYSE:A)与TD-LTE芯片制造商—创毅视讯日前宣布,双方已合作完成TD-LTE的数据卡射频性能的测试。本测试参考3GPPLTE规范及创毅视讯测试需求,基于安捷伦的N5182A信号发生器及N9020A信号分析仪平台完成。本次联合测试遵循3GPP标准规定的第六章及第七章的芯片发射机及接收机的测试规范,这也是两家公司一次成功的合作。

本文引用地址:安捷伦科技中国区总经理兰涛提到:“安捷伦作为全球领先的测试设备制造商,一直致力于提供TD-SCDMA及TD-LTE的测试方案,安捷伦将与创毅视讯一起合作开发TD-LTE测试系统。在中国部署下一代移动通信网络的过程中,安捷伦将扮演重要的角色,为中国移动通信事业做贡献。”

创毅视讯的CEO张辉说:“创毅视讯作为TD-LTE业界率先推出基带处理芯片和数据卡解决方案的中国公司,与安捷伦共同完成的联合测试,具有里程碑的意义,这次合作也帮助我们完成对芯片的性能指标验证。”

安捷伦的MXA,MXG及PXB系列信号分析仪,信号发生器及信道仿真仪可以支持最新的TDD/FDD-LTE标准测试,同时,X系列平台还能支持多达20种以上的无线标准的测试,具体可参见。

下一代无线通信技术,简称LTE,有时分复用TDD及频分复用FDD两个版本,TD-LTE将在在全球得到广泛的部署。安捷伦为TDD和FDD两种最新的无线制式提供了完整的测试解决方案。

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